主要用于CCM及DPP外観検査、検査手段は主に光学イメージング原理を通じて行われ、主に膜電極の外観に瑕疵欠陥（傷、斑点、孔、色差、圧痕、混入、破損、汚れなど）が存在するかどうかを検出します。その検出原理は以下の通りです：膜電極製品の表面にあるさまざまな瑕疵欠陥は、光学特性において必然的に製品自体と差異があります。