CCM厚度检测，采取接触式的检测方式。根据膜电极的结构特性，采取接触式的检测方式对膜电极进行厚度检测。选用高精度接触式位移传感器，接触式传感器测量分辨率0.0001mm，测量精度±0.01mm,测量范围0-12mm，测量力≤1N。采用低压力传感器，不会对CCM表面造成损坏。

a.检测厚度0~12mm；测量精度±0.01mm；

b.接触式测量方式，测量力≤1N；

c.多点测量法，可以测量膜电极全范围任意点，模组重复定位精度0.005mm；

d.大理石平台，台面平面度±0.01mm。

e.配置真空吸附功能。