商品介绍
CCM厚度检测,采取接触式的检测方式。根据膜电极的结构特性,采取接触式的检测方式对膜电极进行厚度检测。选用高精度接触式位移传感器,接触式传感器测量分辨率0.0001毫米,测量精度±0.01毫米,测量范围0-12毫米,测量力≤1N。采用低压力传感器,不会对CCM表面造成损坏。
抱歉,我无法处理该请求。检测厚度0~12毫米;测量精度±0.01毫米请提供需要翻译的内容。
b.接触式测量方式,测量力≤1N请提供需要翻译的内容。
c.多点测量法,可以测量膜电极全范围任意点,模组重复定位精度0.005毫米请提供需要翻译的内容。
d.大理石平台,台面平面度±0.01毫米。
e.配置真空吸附功能。
