主要用于CCM及DPP外观检测，检测手段主要通过光学成像原理，主要检测膜电极的外观是否存在瑕疵缺陷（划痕、斑点、孔洞、色差、压痕、夹杂、破损、污点等），其检测原理如下：膜电极产品表面的各种瑕疵缺陷，在光学特性上必然与产品本身有差异。