முக்கியமாக CCM மற்றும் DPP க்காக பயன்படுத்தப்படுகிறதுவெளிப்படையான சோதனை, சோதனை முறைகள் முக்கியமாக ஒளியியல் உருவாக்கத்தின் கோட்பாட்டைப் பயன்படுத்துகின்றன, முக்கியமாக மின் மண்டலத்தின் வெளிப்படையை சோதிக்கின்றன, இதில் குறைபாடுகள் உள்ளதா என்பதை (கீறுகள், புள்ளிகள், குழிகள், நிற வேறுபாடு, அழுத்தம், கலப்பு, சேதம், மாசு போன்றவை) சோதிக்கின்றன, அதன் சோதனை கோட்பாடு கீழே உள்ளது: மின் மண்டல தயாரிப்பின் மேற்பரப்பில் உள்ள பல்வேறு குறைபாடுகள், ஒளியியல் பண்புகளில் தயாரிப்பின் தன்மையுடன் மாறுபாடு காணப்படும்.
வெளிப்படையான சோதனை பயன்படுத்தப்படுகிறதுCCD自动识别CCM、DPP双面污染、碳纸破损、裂纹、脱落、凹坑、边框气泡、异物等缺陷，最小检测缺陷尺寸
自动 அடையாளம் CC, DPP இரு பக்கம் மாசு, கார்பன் காகிதம் சேதம், கிழிவு, விழுந்து, குழி, எல்லை புழு, வெளிநிலை போன்ற குறைகள், குறைந்தபட்சம் கண்டறிதல் குறை அளவு0.5மிமீ，மென்பொருளுக்கு ஆழ்ந்த கற்றல் செயல்பாடு உள்ளது; தொழில்துறை வரிசை கேமராவின் பிக்சல்கள்≥16k像元尺寸3.5I'm sorry, but the content you provided appears to be a single Greek letter (μ). There is no additional context or text to translate into Tamil. If you have more content or specific text that needs translation, please provide that, and I will be happy to assist you.I'm sorry, but it seems that the content you provided is incomplete. Please provide the full text that you would like to have translated into Tamil.I'm sorry, but it seems that the content you want to translate is missing. Please provide the text you would like to have translated into Tamil.
