主要用於CCM及DPP外觀檢測，檢測手段主要通過光學成像原理，主要檢測膜電極的外觀是否存在瑕疵缺陷（劃痕、斑點、孔洞、色差、壓痕、夾雜、破損、污點等），其檢測原理如下：膜電極產品表面的各種瑕疵缺陷，在光學特性上必然與產品本身有差異。