Chủ yếu được sử dụng cho CCM và DPPKiểm tra ngoại quan, phương pháp kiểm tra chủ yếu thông qua nguyên lý hình ảnh quang học, chủ yếu kiểm tra xem bề mặt của điện cực màng có tồn tại khuyết điểm nào (vết xước, đốm, lỗ, sai màu, vết lõm, tạp chất, hư hỏng, vết bẩn, v.v.) hay không, nguyên lý kiểm tra như sau: Các khuyết điểm khác nhau trên bề mặt sản phẩm điện cực màng chắc chắn sẽ có sự khác biệt về đặc tính quang học so với chính sản phẩm đó.